產(chǎn)品型號: | WSHWZ-080C |
產(chǎn)品簡介 |
溫濕度振動綜合實驗箱又名三綜合試驗箱,產(chǎn)品結(jié)合溫度、濕度、振動功能于一體,適用于航空航天產(chǎn)品、信息電子儀器儀表、材料、電工、電子產(chǎn)品、各種電子元氣件在綜合的惡劣環(huán)境下檢驗其各項性能指標(biāo)。 |
產(chǎn)品用途 |
溫濕度振動綜合實驗箱主要為航天、航空、石油、化工、電子、通訊等科研及生產(chǎn)單位提供溫濕度變化環(huán)境,同時可在試驗箱內(nèi)將電振動應(yīng)力按規(guī)定的周期施加到試品上,供用戶對整機(jī)(或部件)、電器、儀器、材料等作溫濕度、振動綜合應(yīng)力篩選試驗,以便考核試品的適應(yīng)性或?qū)υ嚻返男袨樽鞒鲈u價。與單一因素作用相比,更能真實地反映電工電子產(chǎn)品在運輸和實際使用過程中對溫濕度及振動復(fù)合環(huán)境變化的適應(yīng)性,暴露產(chǎn)品的缺陷,是新產(chǎn)品研制、樣機(jī)試驗、產(chǎn)品合格鑒定試驗全過程必不可少的重要試驗手段。
適用標(biāo)準(zhǔn): ?GB10589-89低溫試驗箱技術(shù)條件; ?GB10592-89高低溫試驗箱技術(shù)條件; ?GB2423.1-89電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A:低溫試驗方法; ?GB2423.2-89電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗B:高溫試驗方法; ?IEC68-2-1基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A:寒冷; ?IEC68-2-2基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗B:干熱; ?GJB150.3-86軍用設(shè)備環(huán)境試驗方法 高溫試驗; ?GJB150.4-86軍用設(shè)備環(huán)境試驗方法 低溫試驗; GB11158;GB10592;GB10589;GB2423.1、2、22;GJB150.3-86;GJB150.4-86等; ?GB/T2423.3-93電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Ca恒定濕熱試驗方法; ?GB/T2423.4-93電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Db交變濕熱試驗方法; ?GJB150.9-86軍用設(shè)備環(huán)境試驗方法 濕熱試驗; |
技術(shù)參數(shù) |
型號 | WSHW-080 | WSHW-150 | WSHW-225 | WSHW-408 | WSHW-800 | WSHW-1000 |
內(nèi)部尺寸 WxHxD (cm) | 40x50x40 | 50x60x50 | 50x75x60 | 60x85x80 | 100x100x80 | 100x100x100 |
外部尺寸WxHxD (cm) | 90x136x94 | 100x146x104 | 100x161x117 | 110x171x137 | 150x186x137 | 150x186x157 |
溫度范圍 | G:-20~150℃ Z:-40~150℃ D:-70~150℃ |
濕度范圍 | 20%~98%R.H.(10%-98%R.H/5%~98%R.H為特殊選用條件) |
溫濕度解析精度/均勻度 | ±0.1℃;±0.1%R.H./ ±1.0℃;±3.0%R.H. |
溫濕度控制精度/波動度 | ±1.0℃;±2.0%R.H./ ±0.5℃;±2.0%R.H. |
升溫/降溫時間 | 約4.0℃/分鐘;約1.0℃/分鐘(每分鐘下降5~10℃為特殊選用條件) |
內(nèi)外部材質(zhì) | 全機(jī)為SUS 304#不銹鋼板霧面處理,內(nèi)箱為不銹鋼 |
保溫材質(zhì) | 耐高溫高密度氯基甲酸乙醋泡沫絕緣體材料 |
冷卻系統(tǒng) | 風(fēng)冷式/單段壓縮機(jī)(-20℃) ,風(fēng)、水冷式/雙段壓縮機(jī)(-40℃~-70℃) |
振動系統(tǒng) | 正弦推力:300kgf 隨機(jī)推力:240kgf 使用頻率范圍:DC~5000Hz 臺面直徑:Φ186mm 最大連續(xù)加速度:80g 最大連續(xù)速度:1.80m/s 最大位移:25mm 漏磁:≤1.5mT 臺體運動部件質(zhì)量:3.8kg 外形尺寸:660×540×780 系統(tǒng)總功耗:6KVA 臺體重量:360kg 最大承載:120kg
控制頻率范圍: 1-5000Hz 頻率示值誤差:5Hz<f<100Hz, 0.05Hz; ≥100Hz, 0.05% 振動信號幅值精度:≤0.5dB 信號失真度:≤0.3%(f≤2000Hz); ≤0.5%(f>2000Hz) 振動方式:定頻、掃頻。 掃頻方式:對數(shù)、線性 掃頻速率:0.3-20ct/min 掃頻誤差:≤0.001% 試驗譜設(shè)置:交越頻率點個數(shù)不限。 控制方式:最大值、最小值、平均值 動態(tài)范圍:100dB 控制精度:±0.5dB 諧波失真:≤0.3% 壓縮精度:≤±1.5dB 壓縮速度:自適應(yīng) 隨機(jī)振動控制 頻率范圍:0.3-5000Hz 頻率分辨率:100、200、400、800、1600線 控制譜動態(tài)范圍:≥80dB(JJG948-1999規(guī)定譜形、自閉環(huán)) 控制精度:PSD≤±0.7dB(90%置信度) 回路時間:<100mS(不含顯示時間) 控制方式:最大值、最小值、平均值、加權(quán)平均控制 試驗譜設(shè)置:交越頻率點個數(shù)不限。 振級設(shè)置:在0—20dB范圍內(nèi),試驗振級及時間任意設(shè)定。 正弦加隨機(jī)控制 寬頻控制:寬帶控制性能和隨機(jī)控制一致 正弦信號:實時生成12個不同頻率的正弦信號,每個正弦信號的頻率連續(xù)變化 閉環(huán)控制:隨機(jī)按功率譜控制,正弦按幅值控制 頻率范圍:在寬帶范圍內(nèi)設(shè)置上下限頻率 掃頻速率:線性0~1000Hz/min,對數(shù)0~20oct/min 掃描方向:向上或向下 掃頻模式:線性或?qū)?shù)或定頻 諧波掃描:可選擇倍頻程和非倍頻程方式 炮振設(shè)置:設(shè)置各子波運行時間和停止時間 計劃設(shè)置:進(jìn)度表開啟或關(guān)閉各窄帶 沖擊波形:半正弦、前峰據(jù)齒、后峰據(jù)齒、梯形波、三角波、矩形波。 沖擊波形補(bǔ)償:前補(bǔ)償、后補(bǔ)償、前后補(bǔ)償,補(bǔ)償時間、補(bǔ)償形式按ML-STD810標(biāo)準(zhǔn)或自定義。 沖擊脈寬:1~500 ms 每分鐘沖擊次數(shù):1~1000 依沖擊脈寬、每幀點數(shù)而定。 |
配件 | 記錄器(選購)、觀視窗、50mm測試孔、PL箱內(nèi)燈、隔板、干濕球紗布 |
控制器 | 韓國“TEMI” South Korea“TEMI” 或日本“OYO”牌 Japan's “OYO” Brand 任選 |
壓縮機(jī) | 法國“泰康”牌 |
電源 | 380VAC±10% 50Hz |